产生断口遗传的理论争议较多，一般认为曾因加热温度过高而使 MnS 之类的杂物溶入奥氏体并富集于晶界面，而冷却时这些夹杂物又会沿晶界面析出，受冲击时易沿粗大奧氏体晶界断裂。 粗大组织的遗传：有粗大马氏体、贝氏体、魏氏体组织的钢件重新奥氏化时，

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采用低电压大电流：在容器内，当空度为几托一lxlo-1托的范围内时，容器内的通电导体在较高的电压下，会产生辉光放电现象。在工业炉内，严重的会产生弧光放电，烧毁电热元件、隔热层等，造成重大事故和损失。因此，工业炉的电热元件的工作电压，一般都不超过80一100伏。

以慢速加热到常规的淬火温度，甚至再低一些，其奥氏体晶粒仍然是粗大的，这种现象称为组织遗传性。要消除粗大组织的遗传性，可采用中间退火或多次高温回火处理。 过烧现象 加热温度过高，不仅引起奥氏体晶粒粗大，而且晶界局部出现氧化或熔化，导致晶界弱化，